上海同倍检测科技有限公司
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SEB2双晶探头探伤仪探头
SEB2探头特点：
用于探测棒材、坯块、杆等中心缺陷的标准探头。经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中预期区域内缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适合于用作与物体平面平行的缺陷区域X范围的确定（如层状结构缺陷、渣孔及厚钢板中的他隔线）。
具体型号有：
SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2-O°、SEB4、SEB4-EN、SEB4-O°、SEB4-EN-SEB2-EN-O°
双晶直探头主要应用：
通常：近表面的小缺陷探测和评估。焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测。剩余壁厚的测量（即使在高温情况下）。
l壁厚余量，锈蚀、腐蚀
l近表缺陷检测
l小零件—螺钉，螺栓，销钉
l覆层和堆焊层
l粘接检测
l轴，杆，方坯芯部缺陷
l粗晶材料
双晶探伤仪直探头主要特性：
l近表分辨率极佳
l与曲面和粗糙面耦合好
l散射噪声较小
l对曲面工件也能沿其轮廓进行检测
l欧款有侧装Ldivo00连接口，SEB..KF型Microdot侧装
l美款有固定BNC电缆（ADP）或侧装MMD（FDU）
