东西仪（北京）科技有限公司
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一、应用X域
这是一款无损分析电子电气产品中有害物质的设备。应用于RoHS的定性定量分析，检测证实产品的RoHS符合性。
为用户提供专门的测试程序，实现快速简易的测试应用。由测量结果判断样品中RoHS限令物质的含量低于或高于限制值，以及是否需要进行确证分析。对于大部分的样品，均不需要送交X三方进行详细的分析，节省了费用。
二、产品特点
1、无损分析，所测样品不需要复杂的准备工作；
2、可全天候工作，坚固耐用;
3、不需要具备X知识，仅需常规培训即可操作；
4、测量时间短，RoHS检测60-200秒；
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用；
6、针对不同样品配备多种滤光机制和规格的滤光片；
7、高分辨率Si-PIN探测器，提高测量灵敏度；
8、探测器电制冷，无需液氮；
9、X大样品仓，可以测量特大到特小的各种尺寸样品。
三、技术指标
产品执行标准 | DIN50987，ISO3497，ASTMB568 |
测试原理 | EDXRF能量色散X荧光光谱法 |
测量样品 | 固体、液体、粉末 |
功能 | 欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br的含量检测 |
高压发生器 | |
输入电压 | 24VDC±10% |
输出电压 | 0-50 kV |
输出电流 | 0-2.0 mA |
输出精度 | 0.01% |
X射线管 | |
X射线管靶材 | W、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 |
X射线管窗口 | Be窗 |
电气参数 | 50W, 4-50kV, 0-1000uA |
冷却方式 | 油冷却 |
X射线照射方向 | 从上往下 |
使用寿命 | 15000-20000h |
探测器 | |
探测器类型 | 硅-PIN半导体探测器 |
能量分辨率 | FWHM<145eV |
探测窗口 | 铍窗，窗口面积：6mm2 |
冷却方式 | 电制冷 |
RoHS测量指标 | |
分析范围 | 1ppm—99.99% |
精密度 | 相对标准差5%以下（含量大于500ppm时） |
准确度 | 相对误差5%以下（含量大于500ppm时） |
测量时间 | 60-200 s |
谱处理系统 | |
处理器类型 | 全数字化32-bit DSP |
谱通道数 | 256，512，1024，2048可供选择 |
能量范围 | 800eV-40960eV |
光路系统和样品观测 | |
准直器系统 | 多准直器可选(φ8mm，φ2mm，φ0.5mm) |
对焦系统 | 镭射激光对焦 |
滤光片 | 多种滤光机制（Cu、Mo、Al） |
样品观察系统 | 300万像素高清CCD摄像头，20倍光学变焦 |
样品室 | |
样品室内部空间 | （宽×高×深）：455×185×430mm |
样品台尺寸 | （宽×深）：275×300mm |
样品台承载重量 | ≤5kg |
试验样品X大尺寸 | 宽×高×深：440×170×410mm |
样品台控制方式 | 简易手动样品台 |
工作台移动技术数据 | X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm |
工作台移动精度 | 0.02mm |
计算机和软件 | |
控制计算机 | 联想品牌机，2G内存，500G硬盘驱动 |
显示器 | 联想19寸LCD显示器 |
操作系统 | Windows XP |
报告结果 | Word、Excel格式 |
软件 | RoHS分析软件 |
软件类型 | FP基本参数法软件 |
软件语言 | 简体中文、繁体中文、英文、其它 |
谱显示 | 自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较 |
谱处理 | 总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合 |
资料分析 | 基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正。 |
重量和尺寸 | |
设备主体尺寸 | 宽×高×深：W 503×H 635×D 790mm |
主体重量 | 约70kg |
使用环境 | |
工作环境 | 温度15-25℃，湿度40-70%RH |
电源系统 | 单相220V±10%，工作电压在允许范围内 |
其它 | 1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置；2. 减少振动；3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体；4. 日光不能直射；5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定。 |
