西安广腾电子科技有限公司
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通过总结国外同类产品的X点,本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件X进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。数字IC多值逻辑测试仪，利用X创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。完全可以满足IC用户的参数测试要求。是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的X秀测试仪器。
本系统的主要特点
测试范围及测试品种：28Pin
54系列； 74系列；
4500系列；4000系列；
RAM 256K BIT
EPROM 64K BIT
C00 系列；
产品主要性能：
在功能测试的基础上 测试器件的输入端注入电流。
测试器件的功耗电流。
测试器件的输入端交叉漏电流。
查找未知芯片型号。
测试器件的输出端：三态“及”OC“门。 可以单次测试，也可以循环测试。
测试器件的输出负载电流。
可自动识别74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。
本产品所提供的多值测试参数：
8种可选择的测试电阻。
可设置多种输入端注入电流。
多种测试电压比较值。
功耗测试。
以上参数的不同组合构成的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。
测试模式：
模式O：全组合参数测试。
模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
模式D：任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
模式E：自检。内容包括计算机部分，显示，键盘及测试管脚电路。
模式F：自编程测试.
数字集成电路多值逻辑测试仪
测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
对IC输入电流、功耗电流测试。
输入漏电流及交叉漏电流测试。
测试过程无须人工干预。
用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
可自动识别74系列中的CMOS器件。
可以查找未知IC的型号。
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