涂层测厚仪又称镀层测厚仪,膜层测厚仪,是一款无损地测量特定基材上涂镀层厚度的仪器。根据测量原理不同可分为磁性涂层测厚仪和涡流涂层测厚仪。广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测X域。
天华X声MCH-2000A、MCH-2000B、MC2000 、MCH-2000EF系列涂层测厚仪为磁性涂层测厚仪。磁性涂层测厚仪是利用磁感应原理,可以测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 。
MCH-2000A、MCH-2000B技术参数:
MCH-2000A型测量范围:0-1250μm
MCH-2000B型测量范围:10-2000μm
测量精度:±(3%厚度值+1)μm
显示方式:4位液晶数字显示、塑料机壳
外型尺寸:161×69×32mm
电源:4节5号电池
重量:260g
MC2000系列技术参数:
MC2000C型测量范围:0-5000µm
MC2000D型测量范围:10-9000µm
测量精度:±(3%厚度值+1)µm
可连接打印机
全中文汉显、金属机壳
外型尺寸:50×95×24mm
存储容量:253个测量值
时钟、日期显示、EL背光
测量材料:铁基
MCH-2000EF系列技术参数
型号:MCH-2000EF1 测量范围:0-450um
型号:MCH-2000EF2 测量范围:0-1250um
型号:MCH-2000EF3 测量范围:0-3000um
分辨率:0.1/1
准确度:±(1.5~3%h)或±2um
电源:2节5号电池
机身尺寸:102mm×66mm×24mm
重量:280g(含电池)
我公司还生产X声波测厚仪,电火花检测仪,X声波清洗机等产品,更多信息欢迎访问我公司网站www.jnthcs.com。咨询电话0537-2487878