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特斯拉計/高斯計縱向探頭，縱向探頭在使用的時候切不可受力、撞擊或受擠壓，以免損壞傳感器。傳感器頭部的凹陷圓點標示為傳感器的有效位置即為測量面。儀器所顯示的數值為測量面所指示點的磁感應強度。

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HP-501型四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。